This is to acknowledge that Giuseppe Cotellessa Attended a TechTalk session entitled " Benefits of high-resolution ICP-OES for challenging applications" / Si attesta che Giuseppe Cotellessa ha partecipato ad una sessione TechTalk dal titolo "Vantaggi dell'ICP-OES ad alta risoluzione per applicazioni complesse" /#11/9/2026

This is to acknowledge that

Giuseppe Cotellessa

Attended a TechTalk session entitled

Benefits of high-resolution ICP-OES for challenging applications"

Si attesta che

Giuseppe Cotellessa

ha partecipato ad una sessione TechTalk dal titolo

"Vantaggi dell'ICP-OES ad alta risoluzione per applicazioni complesse" /#11/9/2026

Dott. Giuseppe Cotellessa



TechTalk: Benefits of high-resolution ICP-OES for challenging applications


Complex sample matrices can make trace element analysis challenging, particularly when spectral interferences limit confidence in results. In applications such as mining analysis, conventional ICP-OES approaches may not always provide the resolution needed to clearly separate overlapping signals or achieve the detection limits required for demanding workflows.

In this 20-minute TechTalk, discover how high-resolution ICP-OES can help overcome spectral interferences, improve confidence in elemental analysis, and deliver reliable results for complex samples. The session will show how enhanced spectral resolution, combined with strong sensitivity, can support more robust trace element detection where conventional approaches may reach their limits.

Designed for ICP-OES users, elemental analysis specialists, analytical chemists, method developers, laboratory managers, QC/QA professionals, and researchers working with complex sample matrices, this session will provide practical insight into how high-resolution ICP-OES can strengthen analytical performance and support confident decision-making in challenging applications.

ITALIANO

TechTalk: I vantaggi dell'ICP-OES ad alta risoluzione per applicazioni complesse

Le matrici di campioni complesse possono rendere ardua l'analisi degli elementi in tracce, in particolare quando le interferenze spettrali compromettono l'affidabilità dei risultati. In ambiti quali l'analisi nel settore minerario, gli approcci ICP-OES convenzionali potrebbero non offrire sempre la risoluzione necessaria per separare chiaramente i segnali sovrapposti o per raggiungere i limiti di rilevabilità richiesti da flussi di lavoro impegnativi.

In questo TechTalk di 20 minuti, scoprite come l'ICP-OES ad alta risoluzione possa aiutare a superare le interferenze spettrali, migliorare l'affidabilità dell'analisi elementale e fornire risultati certi per campioni complessi. La sessione illustrerà come una risoluzione spettrale superiore, unita ad un'elevata sensibilità, possa garantire un rilevamento più robusto degli elementi in tracce laddove gli approcci convenzionali raggiungono i propri limiti.

Pensata per utilizzatori di ICP-OES, specialisti di analisi elementale, chimici analitici, sviluppatori di metodi, responsabili di laboratorio, professionisti del controllo e dell'assicurazione qualità (QC/QA) e ricercatori che lavorano con matrici complesse, questa sessione offrirà approfondimenti pratici su come l'ICP-OES ad alta risoluzione possa potenziare le prestazioni analitiche e supportare decisioni basate su dati certi in applicazioni complesse.


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